美国博曼半导体膜厚测试仪 博曼X射线荧光镀层厚度测量仪
美国博曼膜厚测试仪在欧美一代已是风靡一时,美国博曼带着高性能低价位的膜厚仪进入中国市场,在原来高精密的技术下不断地发展,成为可对应较广应用范围的X射线荧光镀层厚度测量仪[新标准机型]。
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产品副
技术参数:
可测量元素:原子序数13-22号;X射线源:微聚焦型W靶铍窗X射线管功率50W;滤波器:4种不同规格滤波器;照射方式:上方垂直照射方式;检测器:Si-PIN探测器 25mm2 PIN 电制冷固态探测器;准直器:圆形:Φ0.015mm Φ0.05mm Φ0.1mm Φ0.2mm;安全性能:样品室门自锁功能、样品防冲撞功能、自动诊断功能;样品图像对焦方式:激光自动对焦;样品观察:彩色CCD摄像头 倍率光学器 卤素灯照明;样品平台大小:长:210毫米(8.3”) 宽:310毫米(12), 高:140毫米(5.5“);重量:38公斤;修正功能:底材修正、已知样品修正、人工输入修正。
付款方式︰ 面谈