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半導體膜厚測試儀

型號︰BA-100
品牌︰美國博曼
原產地︰美國
單價︰CNY ¥ 100000 / 台
最少訂量︰1 台

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產品描述

美國博曼半導體膜厚測試儀  博曼X射線熒光鍍層厚度測量儀

美國博曼膜厚測試儀在歐美一代已是風靡一時,美國博曼帶着高性能低價位的膜厚儀進入中國市場,在原來高精密的技術下不斷地發展,成為可對應較廣應用範圍的X射線熒光鍍層厚度測量儀[新標準機型]。
金東霖科技攜手美國博曼膜厚儀將幫你在品質的關口上把關,控制您的資源物料,節省您的寶貴時間。給我一個機會,我們還您一個滿意。

產品副

技術參數:
  可測量元素:原子序數13-22號;X射線源:微聚焦型W鈹窗X射線管功率50W;濾波器:4種不同規格濾波器;照射方式:上方垂直照射方式;檢測器:Si-PIN探測器 25mm2 PIN 電制冷固態探測器;准直器:圓形:Φ0.015mm Φ0.05mm Φ0.1mm Φ0.2mm;安全性能:樣品室門自鎖功能、樣品防衝撞功能、自動診斷功能;樣品圖像對焦方式:激光自動對焦;樣品觀察:彩色CCD攝像頭 倍率光學器 鹵素燈照明;樣品平臺大小:長:210毫米(8.3”) 寬:310毫米(12), 高:140毫米(5.5“);重量:38公斤;修正功能:底材修正、已知樣品修正、人工輸入修正。
 

付款方式︰面談
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