美国博曼半导体膜厚测试仪 博曼X射线荧光镀层厚度测量仪
美国博曼膜厚测试仪在欧美一代已是风靡一时，美国博曼带着高性能低价位的膜厚仪进入中国市场，在原来高精密的技术下不断地发展，成为可对应较广应用范围的X射线荧光镀层厚度测量仪[新标准机型]。
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产品副
技术参数：
可测量元素：原子序数13-22号；X射线源：微聚焦型W靶铍窗X射线管功率50W；滤波器：4种不同规格滤波器；照射方式：上方垂直照射方式；检测器：Si-PIN探测器 25mm2 PIN 电制冷固态探测器；准直器：圆形：Φ0.015mm Φ0.05mm Φ0.1mm Φ0.2mm；安全性能：样品室门自锁功能、样品防冲撞功能、自动诊断功能；样品图像对焦方式：激光自动对焦；样品观察：彩色CCD摄像头 倍率光学器 卤素灯照明；样品平台大小：长:210毫米(8.3”） 宽:310毫米(12), 高:140毫米(5.5“)；重量：38公斤；修正功能：底材修正、已知样品修正、人工输入修正。
